Přeskočit na obsah
Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation

Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation

Stabilní cena

Aktuální cena je nejnižší za posledních 30 dní.

8 125 Kč

Taylor & Francis Ltd

Celý popis

Do obchodu

O produktu

Neutron and synchrotron X-ray diffraction have emerged as leading techniques for stress analysis. This book presents an overview of the principles of these techniques and examples of their applications to a range of materials and engineering problems. It contains 20 papers from leading international experts in residual stress analysis covering the
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Strojírenství a materiály.

Vývoj ceny

Podobné produkty

Specifikace

EAN
9780415303972

Recenze

Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?

Napsat recenzi

Před zveřejněním si recenzi jen rychle přečteme.

Další oblíbené produkty