
Analysis of Residual Stress by Diffraction using Neutron and Synchrotron Radiation
Stabilní cena
Aktuální cena je nejnižší za posledních 30 dní.
O produktu
Neutron and synchrotron X-ray diffraction have emerged as leading techniques for stress analysis. This book presents an overview of the principles of these techniques and examples of their applications to a range of materials and engineering problems. It contains 20 papers from leading international experts in residual stress analysis covering the
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Strojírenství a materiály.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9780415303972
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?











