Atom-Probe Tomography - Miller, Michael K. a Forbes, Richard G.
Růst ceny o 1 %
Nejnižší cena od 10. 9. 2026: 3 819 Kč.
O produktu
Nanocharacterization by Atom Probe Tomography is a practical guide for researchers interested atomic level characterization of materials with atom probe tomography. Readers will find descriptions of the atom probe instrument and atom probe tomography technique, field ionization, field evaporation and field ion microscopy.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Strojírenství a materiály.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9781489974297
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
