Electromigration In Ulsi Interconnections - Tan, Cher Ming (Ntu, S'pore)
Růst ceny o 1 %
Nejnižší cena od 10. 9. 2026: 2 938 Kč.
O produktu
Presents a description of the electro migration in integrated circuits. This book examines the various interconnected systems and their evolution employed in integrated circuit technology. It is suitable for readers on electro migration in ULSI interconnections.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Elektronika a komunikace.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9789814273329
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
