Přeskočit na obsah
Microstructural Characterization of Materials - Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology) a Kaplan, Wayne D. (Technion - Israel Institute of Technology)

Microstructural Characterization of Materials - Brandon, David (Technion - Israel Institute of Technology) a Kaplan, Wayne D. (Technion - Israel Institute of Technology)

Stabilní cena

Aktuální cena je nejnižší za posledních 30 dní.

1 542 Kč

John Wiley & Sons Inc

Celý popis

Do obchodu

O produktu

Microstructural characterization is usually achieved by allowing some form of probe to interact with a carefully prepared specimen. The most commonly used probes are visible light, X-ray radiation, a high-energy electron beam, or a sharp, flexible needle.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Strojírenství a materiály.

Vývoj ceny

Podobné produkty

Specifikace

EAN
9780470027851

Recenze

Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?

Napsat recenzi

Před zveřejněním si recenzi jen rychle přečteme.

Další oblíbené produkty