Nanometer-scale Defect Detection Using Polarized Light - Dahoo, Pierre-Richard (University of Versailles Saint-Quentin, France) a Pougnet, Philippe (Vedecom Institute, Versailles, France) a El Hami, Abdelkhalak (Institut National des Sciences Appliquees (INSA-Rouen), France)
Stabilní cena
Cenu sledujeme od 1. 10. 2026 a zatím se drží na 4 125 Kč.
O produktu
This book describes the methods used to detect material defects at the nanoscale. The authors present different theories, polarization states and interactions of light with matter, in particular optical techniques using polarized light.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Ostatní technologie a aplikované vědy.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9781848219366
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
