Nanometer Technology Designs - Ahmed, Nisar
Růst ceny o 1 %
Nejnižší cena od 10. 9. 2026: 2 644 Kč.
O produktu
Supply noise (including IR-drop, ground bounce, and Ldi/dt) effects on chip performance, high test pattern volume, low fault/defect coverage, small delay defect test pattern generation, high cost of test implementation and application, and utilizing low-cost testers are among these challenges.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Technologie.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9780387764863
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
