Přeskočit na obsah
Speckle Metrology - Sirohi, R.S.

Speckle Metrology - Sirohi, R.S.

Stabilní cena

Cenu sledujeme od 20. 7. 2026 a zatím se drží na 13 125 Kč.

13 125 Kč

Taylor & Francis Inc

Celý popis

Do obchodu

O produktu

Covers speckle metrology and its value as a measuring technique in industry. This book also surveys the origin of speckle displacement and decorrelation, presents procedures for deformation analysis and shape measurement of rough objects, and explains particle image velocimetry (PIV).
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Ostatní technologie a aplikované vědy.

Vývoj ceny

Podobné produkty

Specifikace

EAN
9780824789329

Recenze

Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?

Napsat recenzi

Před zveřejněním si recenzi jen rychle přečteme.

Další oblíbené produkty