Thin Film Analysis by X-Ray Scattering - Birkholz, Mario (IHP Microelectronics, Frankfurt/Oder, Germany)
Růst ceny o 6 %
Nejnižší cena za posledních 30 dní: 4 089 Kč (naposledy 10. 9. 2026).
O produktu
With contributions by Paul F. Fewster and Christoph Genzel While X-ray diffraction investigation of powders and polycrystalline matter was at the forefront of materials science in the 1960s and 70s, high-tech applications at the beginning of the 21st century are driven by the materials science of thin films.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Materiály/ skupenství.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9783527310524
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
