Přeskočit na obsah
VLSI Fault Modeling and Testing Techniques

VLSI Fault Modeling and Testing Techniques

Stabilní cena

Cenu sledujeme od 20. 7. 2026 a zatím se drží na 1 875 Kč.

1 875 Kč

Bloomsbury Publishing PLC

Celý popis

Do obchodu

O produktu

This text explores VLSI fault modelling and testing techniques and covers such topics as: physical fault modelling and simulation for VSLI MOS circuits; designing CMOS gates to test open faults; testing bridging faults in VLSI; and testable design synthesis models.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie 3D grafika a modelování.

Vývoj ceny

Podobné produkty

Specifikace

EAN
9780893917814

Recenze

Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?

Napsat recenzi

Před zveřejněním si recenzi jen rychle přečteme.

Další oblíbené produkty