
X-Ray Diffraction for Materials Research - Lee, Myeongkyu
Stabilní cena
Cenu sledujeme od 20. 7. 2026 a zatím se drží na 3 750 Kč.
O produktu
This informative new book describes the principles of X-ray diffraction and its applications to materials characterization. It consists of three parts. The first deals with elementary crystallography and optics, which is essential for understanding the theory of X-ray diffraction discussed in the second section of the book. Part 2 describes how
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Strojírenství a materiály.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9781771882989
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?








