X-ray Scattering From Semiconductors (2nd Edition) - Fewster, Paul F (Panalytical Research, Uk)
Růst ceny o 1 %
Nejnižší cena od 10. 9. 2026: 3 643 Kč.
O produktu
A practical guide to the analysis of materials, including a description of the underlying theories and instrumental aberrations caused by real experiments. The main emphasis concerns the analysis of thin films and multilayers, primarily semiconductors, although the techniques are very general.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Strojírenství a materiály.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9781860943607
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
