Defects in Microelectronic Materials and Devices
Stabilní cena
Cenu sledujeme od 20. 7. 2026 a zatím se drží na 6 563 Kč.
O produktu
Presents a survey of defects that occur in silicon-based metal-oxide semiconductor field-effect transistor (MOSFET) technologies. This book discusses flaws in linear bipolar technologies, silicon carbide-based devices, and gallium arsenide materials and devices.
Tip: Podívejte se také na další produkty z kategorie Elektronika a komunikace.
Vývoj ceny
Podobné produkty
Specifikace
- EAN
- 9781420043761
Recenze
Recenze u nás zatím nikdo nenapsal — budete první?
